多磁頭技術(shù)：通過在同一碟片上增加多個(gè)磁頭同時(shí)的讀或?qū)憗頌橛脖P提速，或同時(shí)在多碟片同時(shí)利用磁頭來讀或?qū)憗頌榇疟P提速，多用于服務(wù)器和數(shù)據(jù)庫中心。下面是學(xué)習(xí)啦小編帶來的關(guān)于固態(tài)硬盤斷電還有數(shù)據(jù)嗎的內(nèi)容，歡迎閱讀!

　　固態(tài)硬盤斷電還有數(shù)據(jù)嗎?

　　雖然現(xiàn)在大家都知道了SSD的好處了，但SSD始終繞不開的一個(gè)問題就是數(shù)據(jù)可靠性，先天性的P/E操作既給了SSD超強(qiáng)的性能，也給它帶來了隱患——數(shù)據(jù)壽命是有限的，升級帶TLC會導(dǎo)致壽命減少，升級到更先進(jìn)的制程也會導(dǎo)致壽命減少，不明真相的人民群眾難免要懷疑SSD的壽命了，這本來很合理，但前面提到的那個(gè)SSD不通電都能導(dǎo)致數(shù)據(jù)流失的傳聞是真的嗎?

　　一個(gè)成功的謠言絕不會100%都是錯誤的，高明的撒謊者總會三分真中摻雜七分假，前面這個(gè)謠言也是如此——SSD不通電會流失數(shù)據(jù)以及溫度對SSD壽命有影響的說法是對的，但把這個(gè)影響夸張到如此地步就不對了，Anandtech網(wǎng)站現(xiàn)在就出了一個(gè)打臉辟謠文章。

　　首先是前面那個(gè)報(bào)告作者Alvin Cox的身份，這篇報(bào)告并不是出自希捷公司的，而是JEDEC組織，Alvin Cox曾是JC-64.8標(biāo)準(zhǔn)小組(也就是SSD委員會)的主席，不過有一點(diǎn)是正確的——Alvin Cox本人確實(shí)是希捷公司資深工程師，只不過這跟他發(fā)表報(bào)告無關(guān)，JEDEC組織本身就是廠商們的聯(lián)合組織，成員來自不同廠商是很正常的事，目前JC-64.8標(biāo)準(zhǔn)小組是HGST公司的Frank Chu領(lǐng)導(dǎo)的。

　　在回答前面有關(guān)SSD數(shù)據(jù)保留問題之前，我們先來了解下廠商是如何確定SSD可靠率的。首先，SSD必須保證一定的容量，因此不可能把很多區(qū)塊(blocks)用于OP空間之類，這樣做會降低用戶的可用容量。第二，SSD必須達(dá)到規(guī)定的UBER及FFR指標(biāo)，下面的表格解釋了UBER和FFR的含義，前者是SSD讀取字節(jié)中出錯的字節(jié)比例，F(xiàn)FR則是功能失效的比例，消費(fèi)級及企業(yè)級SSD在這兩個(gè)指標(biāo)上有不同的要求，消費(fèi)級SSD的UBER是10-15，也就是1/1015的字節(jié)讀取失敗率，F(xiàn)FR不能高于3%。

　　最后一點(diǎn)就是SSD不通電狀態(tài)下要達(dá)到JEDEC規(guī)定的數(shù)據(jù)保存率，消費(fèi)級SSD是30°C溫度下1年，企業(yè)級是40°C下三個(gè)月。

　　以上指標(biāo)最后都是用TBW來表示，這也就是我們看到的SSD標(biāo)識中數(shù)據(jù)寫入量的意義，比如100TB數(shù)據(jù)寫入壽命，這意味著在寫入100TB數(shù)據(jù)時(shí)其指標(biāo)也能達(dá)到上述要求。

　　這個(gè)表格來自Intel

　　溫度確實(shí)也會對SSD的數(shù)據(jù)保存造成影響，從Intel給出的消費(fèi)級SSD關(guān)機(jī)溫度及活動溫度下的保存時(shí)間來看，40°C活動溫度、30°C關(guān)機(jī)溫度下SSD的數(shù)據(jù)保存時(shí)間是52周，也就是一年。關(guān)機(jī)溫度越高，SSD數(shù)據(jù)保存時(shí)間就會越短，活動溫度25-30°C但關(guān)機(jī)溫度55°C時(shí)，SSD保存數(shù)據(jù)的時(shí)間就只有1周了，這就是之前的謠言中“數(shù)據(jù)保存時(shí)間只有幾天”的來源了，這種情況確實(shí)會發(fā)生，但根本不具有代表性。

　　現(xiàn)實(shí)中55°C的關(guān)機(jī)溫度幾乎不可能(PS：如果真有這樣的情況我，覺得這時(shí)候應(yīng)該先關(guān)心自己的人身安全而非數(shù)據(jù)安全了)，因?yàn)榇蟛糠諷SD還是在室溫環(huán)境下使用，溫度通常都在30°C以內(nèi)?；顒訒r(shí)的溫度通常是40°C左右，系統(tǒng)內(nèi)其他部件也會產(chǎn)生熱量的。

　　最后從技術(shù)上解釋下這個(gè)數(shù)據(jù)保存的問題。半導(dǎo)體的導(dǎo)電性跟溫度息息相關(guān)，這對NAND閃存來說不是好消息，因?yàn)閿嚯娭箅娮永響?yīng)不再移動，否則就會改變Cell單元的電荷。換句話說，隨著環(huán)境溫度的升高，電子會更快地從浮柵極逃離，最終會導(dǎo)致Cell單元的電壓狀態(tài)改變，導(dǎo)致數(shù)據(jù)不可讀。(也就是SSD不能再保存數(shù)據(jù))

　　活動狀態(tài)下則是另一回事，更高的溫度會硅基導(dǎo)電性更高，P/E操作過程中電流量更高，隧道氧化層的壓力更少，這會提高Cell單元的可靠性，因?yàn)镾SD可靠性主要就是受限于隧道氧化層保持浮柵極中的電子的能力。(NAND的讀寫原理也可以參考我們之前的文章)

　　總之，在典型的SSD使用環(huán)境下，我們根本不需要擔(dān)心SSD的數(shù)據(jù)保留問題。前面的表格還只是通過了可靠性測試，全新的SSD數(shù)據(jù)保留率會更高，對MLC NAND閃存來說通常是10年。如果你買了一個(gè)SSD放著不用，那么它直接被淘汰的可能性實(shí)際上比SSD不能保留數(shù)據(jù)的可能性更大。

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